在高速开关控制电路或数字逻辑电路中，瞬态电压、负载感应反冲、反向电流等因素常常对核心元件造成威胁，特别是在继电器、MOSFET、步进电机驱动、电感负载等场合，保护电路设计不当可能导致元器件损坏、系统失效甚至引发安...

在电子工程界，若说有哪一颗二极管堪称“经典之最”，MDD1N4148小信号开关二极管当之无愧。自20世纪六十年代问世以来，1N4148因其快速恢复时间、稳定可靠、价格低廉等特性，在无数电路中扮演着不可替代的角色。 一...

随着电子设备工作频率日益提高，射频、通信、电源和高速数字系统在运行过程中极易产生电磁干扰（EMI）和高频噪声，尤其在开关电源、射频前端、以及高速I/O接口中，任何微小的干扰都可能导致系统误动作甚至通信失败。传统稳压...

在电子产品的小型化、高效率、长寿命趋势日益明显的今天，稳压电路的可靠性直接关系到整机性能和产品稳定性。作为现场应用工程师（FAE），我们常常会遇到客户在电路设计中对稳压方案既要求简单，又要求高可靠性。在这类需求...

在工业控制系统中，设备常常工作于电磁干扰、浪涌、电源波动频繁的环境，尤其在继电器动作、电机切换或雷击干扰等场合，瞬态电压可能对MCU、I/O接口、通信芯片等造成致命损伤。MDDTVS（二极管）作为快速响应的过压防护器件，已...

在当今高速数字通信系统中，如USB 3.x/4、HDMI 2.1、Thunderbolt、PCIe 5.0/6.0、10G以太网等，高达数Gbps甚至Tbps的数据传输速率对信号完整性提出了极高要求。与此同时，这些高速接口暴露在外部环境中，也面临着静电放电（...

在电子设计中，MDD-TVS管是保护电路免受瞬态电压冲击的重要器件。然而，TVS管本身在恶劣环境或选型、应用不当时，也可能出现失效问题。作为FAE，本文将系统梳理TVS管常见的三大失效模式——热击穿、漏电流升高与反向击穿，帮...

随着智能手机、平板电脑、可穿戴设备等移动终端的发展，整机集成度不断提升，芯片封装和电路板设计愈发微型化。在追求轻薄与性能的同时，电子元件在静电放电（MDDESD）冲击下的可靠性面临前所未有的挑战。如何在有限空间内...

MDD静电放电（Electrostatic Discharge,ESD）是电子系统中极为常见又极易被忽视的威胁之一。特别是在半导体分立器件和IC封装日趋微型化、敏感度逐步提升的今天，MDDESD成为导致电子元件失效、系统异常甚至整机故障的“隐...